GB/T 13748.24—2025是针对高纯度原生镁锭中痕量杂质元素测定的标准，采用辉光放电质谱法（GDMS），填补了行业在超痕量分析领域的空白。
| 传统检测方法 | GDMS优势 | 适用场景 |
|---|---|---|
| 原子吸收光谱法、ICP-AES | 高灵敏度、多元素同时检测 | 痕量杂质分析 |
| X射线荧光光谱法 | 非破坏性检测，适合大尺寸样品 | 快速筛查 |
| 注：GDMS在灵敏度和动态范围上具有显著优势。 | ||
背景：某镁合金生产企业需要检测原生镁锭中的微量杂质元素，包括钠（Na）、铝（Al）等。
实施步骤：
结论：该方法可有效检测镁锭中微量杂质元素，满足产品质量控制需求。
硬件配置：推荐配备高分辨GDMS系统（中分辩率模式≥3500，高分辩率模式≥9000），确保同位素峰分离清晰。
样品制备：建议采用机械加工结合化学清洗方式，避免引入外来杂质污染。
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本文件描述了镁含量大于 99.9% 的原生镁锭中痕量杂质元素含量的测定方法。 本文件适用于镁含量大于 99.9% 的原生镁锭中痕量杂质元素含量的测定。测定范围见表 1。 本文件不适用于镁及镁合金化学成分分析的仲裁。 表 1 各元素测定范围 元素 测定范围 μg/g 元素 测定范围 μg/g 氟、硫、氯、溴 0.050~50.0 锂、铍、硼、钠、铝、硅、磷、钾...
| 辉光放电质谱仪 中分辨模式下质量分辨率达到 3500，高分辨模式下分辨率达到 9000 | 用于样品表面原子溅射及等离子体中离子化后分析的仪器 |
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